著作(論文等)
論文名
著者名
掲載誌名等
掲載年月
巻
号
開始頁
終了頁
出版者(日本語)
出版者(英語)
発表形態
概要
Basic information
Name
YOSHIMURA Toshihiko
論文名
“Atom-probe microcharacterization of native oxide on silicon
著者名
T. Yoshimura, Y. Ishikawa
掲載誌名等
Sixth International Symposium on passivity, Sapporo
掲載年月
1989-01
巻
号
開始頁
S7-4
終了頁
出版者(日本語)
出版者(英語)
発表形態
プロシーディングス(学術雑誌)
概要
