筆者らは，プログラム開発や画像処理の初心者であっても高性能な不良品検出用AIをカスタマイズしながら設計できるようにCNN&SVM設計支援ツールを開発している．これにより，CNN, SVMといった分類器に対して転移学習，追加学習などの学習アルゴリズムを適用し，静止画や動画に含まれる工業製品の欠陥を検出するためのシステム構築の支援が可能になってきた．本報では，2クラス分類用のSVMの設計と，ラップフィルム製品の欠陥検出への適用実験の結果について報告する．