本稿では，製造メーカからの欠陥検出工程の自動化ニーズに対応するために開発しているMATLABアプリケーションに対して，新たにVAEモデラを実装し，限られた枚数のオリジナル画像をシステマティックに拡張できるように検討したので報告する．VAEモデラは，ユーザがオリジナルのVAEモデルを効率的に構築できるように，設計，訓練，およびテストを評価できるように開発している．VAEモデラを用いることで，KL損失と再構成損失(MSE損失)に基づく学習プロセスの解析と改善策の検討が可能となる．本稿で提案するVAEモデラでは，これら2つの損失を別々に処理し，訓練に用い，可視化させている．VAEモデラの有効性は，VAEモデルの構築プロセスと，クラック状の欠陥を含む画像の拡張実験を通して評価した．