著作(論文等)
|
|
基本情報
|
| 氏名 | 吉村 敏彦 |
| 氏名（カナ） | ヨシムラ トシヒコ |
| 氏名（英語） | YOSHIMURA Toshihiko |
| 所属 | 山陽小野田市立山口東京理科大学工学部機械工学科 |
| 職名 | 嘱託教授 |
| researchmap研究者コード | |
| researchmap機関 |
 |
プロシーディングス(学術雑誌)
|
1989/01
|
Sixth International Symposium on passivity, Sapporo
|
“Atom-probe microcharacterization of native oxide on silicon
|
T. Yoshimura, Y. Ishikawa
|
|
|
S7-4
|
|
|
|
|