清水(B4)，中島(M2)，三木(M1)，永田，渡辺，サポートベクタマシン(SVM)を用いたラップフィルムの不良品検出　－畳み込みニューラルネットワーク(CNN)を特徴抽出器として用いた場合－，第21回計測自動制御学会システムインテグレーション部門講演会論文集, pp.318-322, 福岡オンライン開催，12月16日（水）～18日（金）, 2020.