著作(論文等)
論文名
著者名
掲載誌名等
掲載年月
巻
号
開始頁
終了頁
出版者(日本語)
出版者(英語)
発表形態
概要
Basic information
Name
YOSHIMURA Toshihiko
論文名
“ATOM-PROBE MICROCHARACTERIZATION OF NATIVE OXIDE ON SILICON”
著者名
T. Yoshimura, Y. Ishikawa
掲載誌名等
Solid-State Electronics, Supplement
掲載年月
1990-01
巻
号
開始頁
321
終了頁
出版者(日本語)
出版者(英語)
発表形態
学術論文(学術雑誌)
概要
